陶瓷電容(róng)的(de)失效分(fèn)析

陶(táo)瓷電容(róng)的應用(yòng)已經(jīng)越來越廣(guǎng)了，但我們都知(zhī)道，陶(táo)瓷電(diàn)容是會損壞的，是會失效(xiào)的，導緻陶瓷電(diàn)容失效(xiào)的(de)原因有很多，這(zhè)次我們來(lái)分(fèn)下下陶(táo)瓷電容(róng)失效後(hòu)的情(qíng)況。

通(tōng)過掃描電鏡發(fā)現的(de)陶瓷電介(jiè)質微觀形貌，可以看(kàn)到失(shī)效的(de)樣貌和(hé)原樣相(xiàng)比不僅(jǐn)顔色發(fā)生變化，而(ér)且有(yǒu)裂紋和不完整(zhěng)的的存在(zài)。陶瓷(cí)介(jiè)質中存在一(yī)些大小不等的微小孔(kǒng)洞，等效(xiào)于介質厚(hòu)度減(jiǎn)小，可能會降低(dī)電容器(qì)的擊穿(chuān)絕緣強度。

内電極之(zhī)間是(shì)陶瓷介(jiè)質(zhì)，陶瓷介質中分(fèn)布着(zhe)一-些大小(xiǎo)不等(děng)的微小孔(kǒng)洞，在高溫下電極非常容易擴(kuò)散遷移，擴(kuò)散到(dào)陶瓷介質(zhì)中，在潮濕和雜質離(lí)子(zǐ)的作用下，這(zhè)些孔洞成爲電(diàn)極遷(qiān)移的(de)通道，從而導緻電容(róng)器的絕(jué)緣電阻(zǔ)下降，漏電流增(zēng)大，出現電(diàn)容器擊穿，燒(shāo)毀失效(xiào)。

我們對金(jīn)屬電極(jí)的能譜(pǔ)分析(xī)，表明(míng)失效(xiào)電容的電極中(zhōng)碳和(hé)氧的含量(liàng)增加了，說明金(jīn)屬電極發生了(le)氧(yǎng)化并卻有新(xīn)的含(hán)碳的化(huà)合物生(shēng)成，這會導(dǎo)緻陶(táo)瓷電容的(de)損耗(hào)角正(zhèng)切值d增加(jiā)，絕緣電阻(zǔ)增大，電(diàn)容量(liàng)漂(piāo)移。間(jiān)隔着具有(yǒu)半導(dǎo)體性質的氧化銀(yín)，使無機(jī)介質電容器的(de)等效串聯電阻(zǔ)增大，金屬(shǔ)部分損耗(hào)增(zēng)加，電容(róng)器的(de)損(sǔn)耗角正(zhèng)切(qiē)值d顯著上升(shēng)。